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| 探针压力对四探针法测量银薄膜电阻率的影响 | |
| 引用本文： | 邱邃宇,于明鹏,邱宏.探针压力对四探针法测量银薄膜电阻率的影响[J].科技咨询导报,2010(28):98-99. |
| 作者姓名： | 邱邃宇 于明鹏 邱宏 |
| 作者单位： | [1]清华大学附属中学高一（3）班 [2]北京科技大学物理系,北京100083 |
| 摘 要： | 本文用四探针法测量了220纳米厚的银薄膜的电阻率,研究了探针压力对银薄膜电阻率的影响。结果表明：随着探针压力从1.47牛顿增大到4.41牛顿,银薄膜的电阻率略微增大,最大探针压力时的电阻率比最小探针压力时的电阻率大约增加了7%。 |
| 关 键 词： | 四探针法 探针压力 银薄膜 电阻率 |
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