| 热敏电阻器的温度加速寿命试验 |
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| 引用本文： | 何自由,王恩光,梁俊文,于军.热敏电阻器的温度加速寿命试验[J].华中科技大学学报(自然科学版),1992(6). |
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| 作者姓名： | 何自由 王恩光 梁俊文 于军 |
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| 作者单位： | 华中理工大学固体电子学系
(何自由，王恩光，梁俊文)，华中理工大学固体电子学系(于军) |
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| 摘 要： | 本文对温度加速寿命试验的方法和数据处理的方法作了研究.试验表明,MF_(11-470)热敏电阻器的主要失效模式是阻值漂移的间歇型失效;在普通实验条件下,采用|△R_(25)/R_(25)|>8%的失效判据较为适宜.它的寿命分布类型为η=36705h,m=0.89的两参数威布尔分布.1000h的平均失效率为4×10~(-5)h~(-1).预计降额使用条件下的平均寿命在10~5h以上.根据实验导出的老化筛选条件与实际采用的方法非常一致.
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| 关 键 词： | 热敏电阻器 温度应力 加速寿命试验 |
The Temperature-Accelerated Life Test of the Thermistor |
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| He Ziyou Wang Enguang Liang Junwen Yu Jun.The Temperature-Accelerated Life Test of the Thermistor[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,1992(6). |
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| Authors: | He Ziyou Wang Enguang Liang Junwen Yu Jun |
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| Institution: | He Ziyou Wang Enguang Liang Junwen Yu Jun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thermistor temperature stress accelerated life test |
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