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| 运用表面光电压技术对半导体表面光电特性的研究 | |
| 引用本文： | 刘向阳,张振龙.运用表面光电压技术对半导体表面光电特性的研究[J].烟台师范学院学报(自然科学版),2003,19(1):64-67,80. |
| 作者姓名： | 刘向阳 张振龙 |
| 作者单位： | [1]河南大学特种功能材料重点实验室 [2]河南大学物理与信息光电子学院；河南开封47500 |
| 摘 要： | 对运用表面光电压技术(SPS)对半导体材料光电性质的研究进行了综述，系统阐述了表面光电压谱(SPS)和场诱导表面光电压谱(FISPS)在测定半导体类型、表面态及其能级位置、表面电荷分布、半导体的能带隙等方面所表现出的优越性质．研究了半导体能带隙所表现出的特有性质． |
| 关 键 词： | 半导体材料 表面光电压技术 表面光电压谱 场诱导表面光电压谱 表面态 能带隙 |
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