| 纳米材料晶粒鉴定方法的研究 |
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| 引用本文： | 吴万国,丁音琴,黄清明.纳米材料晶粒鉴定方法的研究[J].福州大学学报(自然科学版),2003,31(1):49-51. |
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| 作者姓名： | 吴万国 丁音琴 黄清明 |
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| 作者单位： | 1. 福州大学中心实验室,福建,福州,350002
2. 福州大学化肥催化剂国家工程研究中心,福建,福州,350002 |
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| 摘 要： | 介绍用X射线衍射方法进行纳米材料鉴定的原理和方法 ,对谢乐公式的推导作了较为详细的说明 .为了验证该公式计算结果的正确与否 ,用透射电镜观测法作了直接对比 .
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| 关 键 词： | X射线 纳米材料 晶粒大小 |
| 文章编号： | 1000-2243(2003)01-0049-03 |
| 修稿时间： | 2002年9月24日 |
A study on appraisal method of crystallite size for nanometre materials |
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| WU Wan-guo,DING Yin-qin,HUANG Qin-min.A study on appraisal method of crystallite size for nanometre materials[J].Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition),2003,31(1):49-51. |
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| Authors: | WU Wan-guo DING Yin-qin HUANG Qin-min |
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| Institution: | WU Wan-guo 1,DING Yin-qin 2,HUANG Qin-min 1 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-ray nanometer material crystallite size |
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