| 用于中国古代玉器质地鉴测和溯源中的无损分析方法 |
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| 引用本文： | 赵虹霞,张朱武,干福熹. 用于中国古代玉器质地鉴测和溯源中的无损分析方法[J]. 广西民族大学学报, 2009, 15(4): 42-53 |
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| 作者姓名： | 赵虹霞 张朱武 干福熹 |
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| 作者单位： | 中国科学院,上海光学精密机械研究所科技考古中心,上海,201800;中国科学院,上海光学精密机械研究所科技考古中心,上海,201800;复旦大学,上海,200433 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金,中国科学院知识创新工程 |
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| 摘 要： | 外束质子激发X射线荧光分析法(PIXE)、X射线衍射法(XRD)和激光拉曼光谱技术(LRS)是应用于科技考古研究中的三种无损分析技术,可广泛应用于中国古代整件玉器的无损伤研究.首先介绍了三种无损分析方法的原理、进展和应用,并对透闪石一阳起石型、蛇纹石型、长石型、青金石和绿松石这五种常见玉石进行了无损测试.在此基础上对出土于河南安阳市殷墟和浙江余杭良渚遗址群的156件完整玉器进行了成分、矿相和结构的无损测试,初步研讨了它们的质地和来源.
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| 关 键 词： | 玉石 中国古代玉器 无损分析 |
The Non-destructive Analytical Methods Applied to Discrimination of the Mineral Phase and Provenance of Chinese Ancient Jade Artifacts |
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