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| 同位素稀释质谱法测定高纯耐火金属硅化物铌和二氧化硅中痕量铀、钍、钙和其他重金属 | |
| 引用本文： | 彼得·赫兹纳,克劳斯·G·霍伊麦恩,梁玉珍.同位素稀释质谱法测定高纯耐火金属硅化物铌和二氧化硅中痕量铀、钍、钙和其他重金属[J].高师理科学刊,1993(3). |
| 作者姓名： | 彼得·赫兹纳 克劳斯·G·霍伊麦恩 梁玉珍 |
| 作者单位： | 德国雷根斯堡大学无机化学研究院 (彼得·赫兹纳，克劳斯·G·霍伊麦恩)，齐齐哈尔师范学院化学系(梁玉珍) |
| 摘 要： | <正> 我们研制了一种对耐火金属硅化物,铌和二氧化硅中痕量杂质,U,Th,Ca,Fe,Cr,Ni,Cu和Cd的测定方法,即同位素稀释质谱法(IDMS),该法是借助微电子设备的特性使其对铀、钍分析检出限降到最低为ppt级的水平,对其他元素可检测到ppb级或根据空白值的某些情况而衰减的高灵敏度和高准确度的方法.痕量组分与基体分离是采用选择色谱,萃取和电解步骤与热离子化质谱结合的方法,并对先进工艺的高纯材料(金属和硅化物粉末,致密的硅化物和二氧化硅)的不同样品进行了分析. |
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