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| 高功率激光二极管的可靠性研究 | |
| 引用本文： | 王乐,刘云,吴东江,王立军.高功率激光二极管的可靠性研究[J].吉林大学学报(信息科学版),2003,21(3):212-215. |
| 作者姓名： | 王乐 刘云 吴东江 王立军 |
| 作者单位： | 1. 吉林大学,电子科学与工程学院,吉林,长春,130026;中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130022 2. 中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130022 3. 吉林大学,物理学院,吉林,长春,130012 |
| 摘 要： | 在使用综合参数测试仪测试半导体量子阱激光器的过程中，通过测试的功率曲线和伏安特性，断定激光器受到损伤，由扫描电镜(SEM：Scaning Electron Microscopy)观察到激光器的腔面出现了熔化，证实激光器性能的改变是由于产生了暗线缺陷(DLD：Dark Line Difect)和灾变性光损伤(COD：Catastrophic Optical Damage)，通过分析，了解到激光器的退化主要是由器件本身的材料、结构以及后期的工艺过程所决定的，在测试器件过程中电浪涌会加速或产生突然灾变性退化，最后给出了用隔离及无吸收窗口来减少损伤的方法． |
| 关 键 词： | 激光二极管 可靠性 暗线损伤 光学灾变损伤 |
| 文章编号： | 1671-5896(2003)03-0212-04 |
| 修稿时间： | 2003年1月8日 |
Reliability of the high power laser diodes |
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| Abstract: | In measuring the \%P\|I\% and \%I\|V\% characteristics of semiconductor LDs(Laser Diodes),some devices fail suddenly.By SEM(Scaning Electron Microscopy),the melting region in facet of these devices is observed,which confirms that the failed devices are caused by DLD(Dark Line Defect) and COD(Catastrophic Optical Damage).From the expreimental results and theroy analysis,the factors which cause devices degrade may be the imperfects of material,structure or process,and the electrical surge will aceelerate the degradation.The methods for decreasing device degradation,such as insulation and nonalsorbing mirrors,are presented. |
| Keywords: | Laser diodes Reliability Dark line defect(DLD) Catastrophic optical damage(COD) |
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