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联合摄影及斜点样方法的单株植物冠层结构参数测量(Ⅱ):结构参数测量
引用本文:邹杰,阎广建.联合摄影及斜点样方法的单株植物冠层结构参数测量(Ⅱ):结构参数测量[J].北京师范大学学报(自然科学版),2011,47(2):192-196.
作者姓名:邹杰  阎广建
作者单位:福州大学福建省空间信息工程研究中心空间数据挖掘与信息共享教育部重点实验室;北京师范大学地理学与遥感科学学院遥感科学国家重点实验室;
基金项目:国家自然科学基金资助项目(41001203); 国家“863”计划资助项目(2007AA10Z227); 国家“973”计划资助项目(2007CB714402); 福建省教育厅科技资助项目(JA10042); 遥感科学国家重点实验室自由探索资助项目
摘    要:总结了单株冠层叶面积指数(LAI)测量方法发展历史、现状及存在的问题,提出了联合摄影及斜点样方法的单株植物冠层总面积指数(PAI)测量方法.研究发现,选择合理的单位体元大小及分区大小组合方案对单株冠层几何参数及PAI测量十分关键.任意组合单位体元大小及分区大小可引起几何参数及PAI测量异常,当单位体元大小与分区大小之间相互匹配时,冠层几何参数及PAI测量结果稳定性良好.与立体体元大小相比,分区大小对冠层几何参数及PAI测量结果影响更为显著.

关 键 词:总面积指数  叶面积指数  斜点样方法  摄影
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