| 金属中缺陷对电化学渗氢的影响 |
| |
| 引用本文： | 戴鸿平,吴辉煌,周绍民. 金属中缺陷对电化学渗氢的影响[J]. 厦门大学学报(自然科学版), 1987, 0(5) |
| |
| 作者姓名： | 戴鸿平 吴辉煌 周绍民 |
| |
| 作者单位： | 厦门大学物理化学研究所，厦门大学化学系 |
| |
| 摘 要： | 金属中缺陷用缺陷密度G_i、陷阱能量E_i和频率因子V_i表示,氢扩散系数同这些参数的关系由简单的位能曲线模型导出.缺陷对电化学渗氢暂态的影响通过数值方法进行分析.结果表明,缺陷的存在会延迟渗氢暂态电流的出现,减小渗氢电流的变化速度.这些结论可用于解释若干异常的渗氢实验现象.文中还讨论了氢扩散系数的Arrhenius关系.
|
Effects of the Defects in Metals on Electrochemical Hydrogen Permeation |
| |
| Dai Hongping Wu Huihuang Zhou Shaomin. Effects of the Defects in Metals on Electrochemical Hydrogen Permeation[J]. Journal of Xiamen University(Natural Science), 1987, 0(5) |
| |
| Authors: | Dai Hongping Wu Huihuang Zhou Shaomin |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Hydrogen Permeation Hydrogen diffusion Metal defect Hy-drogen trapping |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
|
