| 边界扫描技术及其在VLSI芯片互连电路测试中的应用 |
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| 引用本文： | 倪军.边界扫描技术及其在VLSI芯片互连电路测试中的应用[J].皖西学院学报,2006,22(5):59-62. |
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| 作者姓名： | 倪军 |
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| 作者单位： | 皖西学院,机械与电子工程系,安徽,六安,237012 |
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| 摘 要： | 本文介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、以PC机作平台,针对由两块Xilinx公司的xc9572_pc84芯片所互连的PCB板,结合边界扫描技术,探讨了芯片级互连故障的测试与诊断策略。体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高,控制简单方便,易于实现的优越性。
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| 关 键 词： | JTAG标准 边界扫描技术 芯片级互连测试 超大规模集成电路 故障诊断 可测性设计 |
| 文章编号： | 1009-9735（2006）05-0059-04 |
| 收稿时间： | 2006-08-25 |
| 修稿时间： | 2006年8月25日 |
Boundary Scan Technology and Its Application on VLSI Chip's Interconnection Circuit Test |
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| Ni Jun.Boundary Scan Technology and Its Application on VLSI Chip''''s Interconnection Circuit Test[J].Journal of Wanxi University,2006,22(5):59-62. |
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| Authors: | Ni Jun |
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| Abstract: | This article introduces the IC chip structure that supports JTAG standard,and discusses fault test and diagnosis strategy for chips interconnection incorporating boundary scan technology on the PCB that are interconnected by two pieces of xc9572 pc84 chips on PC platform.Of all these manifest the method is highly effective,simply and conveniently controlled,and easily realised. |
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| Keywords: | JTAG standard boundary scan technology chips interconnection test VLSI chip Fault diagnose design for testability |
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