铁磁/绝缘层/有机半导体/铁磁多层膜隧道结的隧穿磁电阻的温度和偏压特性研究 |
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作者姓名: | 张佩佩 徐明 陈尚荣 吴艳南 周勋 刘杰 |
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作者单位: | ① 四川师范大学物理与电子工程学院&固体物理研究所低维结构物理实验室, 成都 610068;
② 贵州师范大学物理与电子科学学院, 贵阳 550001 |
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基金项目: | 贵州省科技厅应用基础研究项目(编号: 黔科通J合[2006]2004)和四川省教育厅自然科学重点项目资助(编号: 07ZA095) |
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摘 要: | 采用Slonczewski的近自由电子模型, 利用转移矩阵的方法, 研究了铁磁/绝缘层/有机半导体/铁磁隧道结的自旋极化载流子隧穿的温度和偏压特性. 计算了T=4 K和T=300 K时, 隧穿磁电阻(Tunneling Magnetic Resistance, TMR)随偏压的变化关系, 同时还研究了零温时在有限偏压下隧穿磁电阻TMR与绝缘层厚度、有机半导体层厚度以及铁磁/有机半导体界面势垒U的变化关系. 我们的计算结果较好地解释了有关的实验 结论.
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关 键 词: | 多层膜 有机半导体 绝缘体 铁磁层 隧穿磁电阻 |
收稿时间: | 2009-12-09 |
修稿时间: | 2010-01-22 |
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