低比度测量高纯锗能谱仪的一种效率刻度方法

介绍对本实验室用于低水平放射性比活量测试的高纯锗能谱仪作效率刻度的方法，即先用１５２Ｅｕ点源相对效率刻度，然后用一个体标准源把相对效率刻度曲线转换成绝对效率曲线。实验证明，只要点源与探测器有足够的距离则可避免符合相加修正。比对结果表明该方法是可行的。