| 基于LSTR模型的变结构面板单位根检验 |
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| 引用本文： | 陈海燕,杨宝臣. 基于LSTR模型的变结构面板单位根检验[J]. 系统管理学报, 2011, 20(1) |
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| 作者姓名： | 陈海燕 杨宝臣 |
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| 作者单位： | 天津大学管理学院,天津,300072 |
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| 基金项目： | 教育部人文社会科学规划基金项目,天津大学自主创新基金资助项目 |
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| 摘 要： | 针对结构变化的面板数据,利用非线性平滑转换函数修正IPS面板单位根检验,提出LSTR-IPS面板单位根检验方法.通过模拟研究表明,LSTR-IPS比传统的面板单位根检验方法具有更高的功效,并且当样本量越大时,LSTR-IPS检验的功效越高,特别是随着时间T的增大,检验功效呈上升趋势.最后,对我国经济增长进行平稳性检验,表明经济增长为带结构变化的趋势平稳过程而非一阶单整过程,说明LSTR-IPS检验能更准确地判断面板数据的平稳性.
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| 关 键 词： | 面板数据 结构变化 单位根检验 LSTR模型 |
Testing the Unit Root of Panel Data with Structural Change based on LSTR Model |
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| CHEN Hai-yan , YANG Bao-chen. Testing the Unit Root of Panel Data with Structural Change based on LSTR Model[J]. Systems Engineering Theory·Methodology·Applications, 2011, 20(1) |
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| Authors: | CHEN Hai-yan YANG Bao-chen |
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