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| 纳米粒子粒径的测量与表征的研究 | |
| 引用本文： | 顾卓明,顾彩香,范少卿,王平宗.纳米粒子粒径的测量与表征的研究[J].云南大学学报(自然科学版),2005(Z1). |
| 作者姓名： | 顾卓明 顾彩香 范少卿 王平宗 |
| 作者单位： | 上海海事大学商船学院 上海海事大学商船学院 上海 |
| 摘 要： | 采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径进行测量与表征.研究结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,而且测量结果较吻合.纳米粒子实际平均粒径可能大于用X射线衍射线线宽法测定结果,而小于用透射电镜法测定结果.对它们的优缺点进行了对比分析. |
| 关 键 词： | 纳米粒子 X射线衍射法（谢乐法） 透射电子显微镜法 平均粒径 |
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