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电路测试的可区分故障算法研究
引用本文:潘中良,陈翎,张光昭. 电路测试的可区分故障算法研究[J]. 中山大学学报(自然科学版), 1999, 38(3): 21-24
作者姓名:潘中良  陈翎  张光昭
作者单位:中山大学无线电电子学系
摘    要:
研究一种基于人工神经网络的能区分故障的数字电路测试生成方法,该方法利用电路基本逻辑门的特性和神经网络模型的特点,首先建立测试生成的神经网络模型,然后通过求解网络能量函数的最小值点获得给定类型故障的测试矢量,其研究结果在可区分故障的测试生成方面提供了一种可能的新途径

关 键 词:数字电路;测试生成;人工神经网络

Distinguishable Fault Methods of Circuits Test Generation
PAN Zhong liang,CHEN Lin,ZHANG Guang zhao. Distinguishable Fault Methods of Circuits Test Generation[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni, 1999, 38(3): 21-24
Authors:PAN Zhong liang  CHEN Lin  ZHANG Guang zhao
Abstract:
A distinguishable faults test generation method for digital circuits is presented.The features of basic gate circuits and neural networks are used to establish the test model, and to generate the test patterns for given faults.The fault model and constrained circuit are studied.Some strategies, e g,the reduction of the size of neural network, are proposed in order to accelerate test generation process.The experimental results demonstrate that the algorithm proposed in the paper is effective.
Keywords:digital circuits  test generation  artificial neural networks  
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