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用倒频谱分析纱条条干不匀
引用本文:陈跃华,李汝勤,吴军广.用倒频谱分析纱条条干不匀[J].东华大学学报(自然科学版),1991(2).
作者姓名:陈跃华  李汝勤  吴军广
作者单位:中国纺织大学纺织工程二系纺织仪器教研室,中国纺织大学纺织工程二系纺织仪器教研室,中国纺织大学纺材专业85级学生
摘    要:本文用倒频谱分析技术研究了纱条条干不匀结构。从UT-ⅡB型条干均匀度仪取出纱条不匀的电信号送入信号分析仪,构成倒频谱分析的测试系统。通过实验和理论分析可知,用倒频谱分析纱条条干不匀,可以提取出一般波谱图中无法得到的信息,有助于进一步分析纱条不匀的成因。

关 键 词:均匀度  功率谱  对数化倒频谱  波谱图

THE APPLICATION OF CEPSTRUM TECHNIQUE IN YARN IRREGULARITY ANALYSIS
Chen Yuehua,Li Ruqin,Wu Junguang.THE APPLICATION OF CEPSTRUM TECHNIQUE IN YARN IRREGULARITY ANALYSIS[J].Journal of Donghua University,1991(2).
Authors:Chen Yuehua  Li Ruqin  Wu Junguang
Institution:Department of Textile Technology
Abstract:
Keywords:evenness  power spectrum  cepstrum  spectrogram    
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