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光学干涉位相移动法评价压电陶瓷响应曲线
引用本文:张新阳,夏莉艳,周恒为.光学干涉位相移动法评价压电陶瓷响应曲线[J].伊犁师范学院学报(自然科学版),2009(1):25-29.
作者姓名:张新阳  夏莉艳  周恒为
作者单位:伊犁师范学院物理与电子信息学院,新疆,伊宁,835000
基金项目:日本筑波大学古田贝·伊藤实验室研究项目 
摘    要:压电陶瓷是具有压电效应的一种功能陶瓷,其随电压的微位移形变精度很高,在微技术领域应用广泛,响应曲线是评价压电陶瓷性能的主要指标。利用光学干涉的手段获得形变干涉图样,采用位相移动的方法从图样中解析出形变大小,从而获得压电陶瓷的实际响应曲线。

关 键 词:干涉  位相移动法  响应曲线  微位移

Evaluating Response Curves of PZT by Phase-shifting Method in Optical Interferometry
ZHANG Xin-yang,XIA Li-yan,ZHOU Heng-wei.Evaluating Response Curves of PZT by Phase-shifting Method in Optical Interferometry[J].Journal of Ili Normal University,2009(1):25-29.
Authors:ZHANG Xin-yang  XIA Li-yan  ZHOU Heng-wei
Abstract:
Keywords:
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