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1nm级表面粗糙度的双频激光测量系统
引用本文:张新宝,李柱,谢铁邦,赵斌.1nm级表面粗糙度的双频激光测量系统[J].华中科技大学学报(自然科学版),2001,29(11):6-8.
作者姓名:张新宝  李柱  谢铁邦  赵斌
作者单位:华中科技大学机械科学与工程学院
基金项目:国家“九五”重点攻关项目 ( 96 919 0 1 0 2 1),国家自然科学基金资助项目 ( 5 95 75 0 83 )
摘    要:研究了一种基于共外光路双频激光光外差原理的1nm级表面粗糙度的测量系统。从理论上论证了测定系统的原理和测量精度,并用实验结果证明了测量系统的分辨率。此测量系统没有测量基准误差,对测量环境要求不特别苛刻,适用于精密或超精密表面形貌的轮廓测量。

关 键 词:1nm级表面粗糙度  双频激光  共外光路  激光光外差  轮廓测量  干涉原理
文章编号:1000-8616(2001)11-0006-03
修稿时间:2000年11月12

A New Profilometer with a Dual-frequency Laser for Measuring the Surface Roughness with 1?nm
Zhang Xinbao,Li Zhu,Xie Tiebang,Zhao Bin.A New Profilometer with a Dual-frequency Laser for Measuring the Surface Roughness with 1?nm[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2001,29(11):6-8.
Authors:Zhang Xinbao  Li Zhu  Xie Tiebang  Zhao Bin
Institution:Zhang Xinbao Li Zhu Xie Tiebang Zhao Bin
Abstract:
Keywords:nm scale surface roughness  dual  frequency laser  outside con  beam  laser DPC
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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