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| TiO_x胶体浓度对银纳米线薄膜透光导电性能的影响 | |
| 引用本文： | 张祥,周聪华,夏兴达,杨兵初.TiO_x胶体浓度对银纳米线薄膜透光导电性能的影响[J].湘潭大学自然科学学报,2015(2):91-96. |
| 作者姓名： | 张祥 周聪华 夏兴达 杨兵初 |
| 摘 要： | 采用多元醇法合成银纳米线,用旋涂法制备银纳米线薄膜,并在其表面旋涂一层氧化钛(TiOx)胶体薄膜以进行表面修饰.采用X-射线衍射仪与扫描电子显微镜对银纳米线的晶体结构与表面形貌进行表征;采用紫外-可见光分光光度计与四探针测试仪对银纳米线薄膜的透光与导电性能进行测试.研究发现,银纳米线薄膜的透光性能和导电性能随着旋涂转速的增加而降低,这与薄膜厚度变化有关.进一步研究发现,胶体浓度对于薄膜的透光导电性能有显著影响,在转速为2 000r/min的时候,0.01 mol/L浓度的TiOx胶体可以有效地提高薄膜的导电性能. |
| 关 键 词： | 银纳米线 旋涂 TiOx胶体 方块电阻 透过率 |
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