Al Lβ吸收边附近透过谱的奇怪振荡 |
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引用本文: | (黎刚,(崔明启,(陈玲燕,(杨海强,(张菊芳,(卢春光.Al Lβ吸收边附近透过谱的奇怪振荡[J].科学通报,1996,41(12):1079-1082. |
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作者姓名: | (黎刚 (崔明启 (陈玲燕 (杨海强 (张菊芳 (卢春光 |
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作者单位: | 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,同济大学玻耳固体物理研究所,中国科学院北京真空物理实验室,中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,中国科学院长春光学精密机械研究所 北京 100039,北京 100039,上海 200092,北京 100873,北京 100039,长春 130022 |
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摘 要: | 厚度从几百纳米到几微米的无衬铝膜被广泛地用做软X射线的滤光片和衰减膜。例如在多靶的类氖锗软X射线激光实验中,谱线强度的变化有3~5个数量级,为保证记录底片能工作在线性区,需根据靶长的变化更换不同厚度的铝膜对实验中产生的软X射线进行衰减。又如在同步辐射软X射线波段的应用中,往往需要加很薄(几百纳米厚)的铝膜挡掉同步辐射中的可见光成分。此外,Al元素的K、L吸收边也被广泛地用于软X射线能量的定标中。 作者分别在同济大学和长春光学精密机械研究所用热蒸发和电子束蒸发两种方法制备了0.3μ到2.5μm厚的无衬铝膜。在已抛光的玻璃衬底上先蒸镀一层NaCl作为脱膜剂,然后蒸镀Al膜,经脱膜获得厚度均匀(不均匀性小于5%,在100平方毫米范围内)的无衬铝膜。杜杰,王珏等对Al膜所作的Auger谱分析表明:铝膜表面的氧化层大约有7.5nm厚,氧化的主要产物是Al_2O_3。
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关 键 词: | 吸收边 透过谱 铝膜 表面形貌 STM SEM |
收稿时间: | 1995-09-13 |
修稿时间: | 1996-01-17 |
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