时序电路测试生成算法研究 |
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引用本文: | 曲萍萍,赵莹,孟祥.时序电路测试生成算法研究[J].科技信息,2008(12):143-143. |
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作者姓名: | 曲萍萍 赵莹 孟祥 |
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作者单位: | 北华大学电气信息工程学院 吉林吉林132021 |
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摘 要: | 随着大规模集成电路复杂性的提高,时序电路的测试生成变得越来越困难,因此研究有效的时序电路测试生成算法不仅具有学术意义,还具有巨大的经济效益和社会效益。本文对近年国内外学者在时序电路测试生成算法方面的研究进行了综述,对其作了比较,分析了相对的优点及缺点。最后做了总结并展望了未来的发展方向。
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关 键 词: | 时序电路 测试生成 算法 |
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