| 利用同步辐射XRD研究BiFeO3 外延多铁薄膜的微结构 |
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| 作者姓名： | 李晓龙 王灿 顾月良 何庆 吕惠宾 金奎娟 周兴泰 徐洪杰 |
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| 作者单位： | ① 中国科学院上海应用物理研究所, 上海 201204;
② 中国科学院物理研究所, 北京 100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号: 10979073, 10874226)和国家重点基础研究发展计划(编号: 2010CB934501)资助项目 |
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| 摘 要： | 使用脉冲激光沉积在SrTiO3 衬底上生长了不同厚度的BiFeO3(BFO)薄膜, X 射线衍射分析表明薄膜是BFO 外延薄膜. X 射线反射率测量发现BFO 薄膜密度随着厚度的增加而增加, 同时薄膜表面存在厚度为数纳米的非设计覆盖层. 随着厚度的增加, BFO 薄膜由完全应变过渡到应变部分弛豫状态, 同时BFO 从四方相转变为单斜相.
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| 关 键 词： | 铁电薄膜 微结构 同步辐射衍射 |
| 收稿时间： | 2010-08-02 |
| 修稿时间： | 2010-11-24 |
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