CMOS电路锁定失效的一般性防止措施研究

CMOS电路是一个具有良好特性的电路结构,但是在实际应用中常出现锁定失效的现象,容易对产品功能和电路造成危害。针对这个问题,本文对产生这种锁定失效现象的产生原因和条件进行了分析,提出了一系列有效可行的防止措施,对解决锁定失效问题和提高CMOS电路的设计应用具有很强的针对性。