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亚微米GeSi HBT的物理模型与数值模拟方法
引用本文:吴金,杨廉峰,刘其贵,夏君,魏同立.亚微米GeSi HBT的物理模型与数值模拟方法[J].东南大学学报(自然科学版),2000,30(1):62-67.
作者姓名:吴金  杨廉峰  刘其贵  夏君  魏同立
作者单位:东南大学微电子中心,南京,210096
基金项目:国家自然科学基金!6980 60 0 2,江苏省自然科学基金!BK970 0 6
摘    要:系统分析了小尺寸半导体器件中的载流子非本地输运模型,重点研究了非均匀能带结构和异质结效应对电流密度的影响。同时,给出了归一化处理后的系统数学模型,并对器件的边界条件、参数模型、方程的离散及线性化处理等问题进行了讨论。

关 键 词:硅化锗  HBT  输运模型  物理模型  数值模拟  离散  线性化  半导体器件

Analysis of Physical Models and Numerical Simulation for Submicron GeSi HBT
Wu Jin,Yang Lianfeng,Liu Qigui,Xia Jun,Wei Tongli.Analysis of Physical Models and Numerical Simulation for Submicron GeSi HBT[J].Journal of Southeast University(Natural Science Edition),2000,30(1):62-67.
Authors:Wu Jin  Yang Lianfeng  Liu Qigui  Xia Jun  Wei Tongli
Abstract:This paper analyzes the carrier non local transport model of small size semiconductor devices and studies the influences of nonsymmetrical band structure and heterogeneous effect on emphasis. And for the numerical simulation, this paper presents the unitary mathematical model and discusses some problems in the simulation process, such as the boundary conditions, parameter models, discretigation of nonlinear equations and its linearization, etc.
Keywords:GeSi HBT  transport model  discretization  linearization
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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