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测试频率对钕掺杂钛酸铋铁电薄膜极化反转疲劳特性的影响
引用本文:张鹏展,沈明荣,陈丽莉.测试频率对钕掺杂钛酸铋铁电薄膜极化反转疲劳特性的影响[J].苏州大学学报(医学版),2007,23(3):37-41.
作者姓名:张鹏展  沈明荣  陈丽莉
作者单位:张鹏展(苏州大学,物理科学与技术学院,江苏省薄膜材料重点实验室,江苏,苏州,215006)       沈明荣(苏州大学,物理科学与技术学院,江苏省薄膜材料重点实验室,江苏,苏州,215006)       陈丽莉(苏州大学,物理科学与技术学院,江苏省薄膜材料重点实验室,江苏,苏州,215006)
摘    要:首先介绍了铁电薄膜极化反转疲劳特性测试原理,然后研究了Bi3.54Nd0.46Ti3O12(BNT)铁电薄膜在不同测试频率下的极化反转时的疲劳特性.采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了BNT薄膜,发现其极化反转时的疲劳特性与外加测试频率之间存在着极强的依赖关系.研究表明BNT薄膜抗疲劳特性随测试频率减小而变差.在外加反转电场强度为2倍矫顽场强时,测试频率分别为50 kHz、100 kHz和1 MHz的情况下,经过6.7×108次极化反转后,薄膜的剩余极化值分别下降了36.1%、16.9%和7.1%.在相同条件下,测试了目前铁电存储器用的PbZr0.52Ti0.48O3(PZT)薄膜的疲劳特性,并与BNT的相比较,发现BNT薄膜的抗疲劳特性要明显优于PZT薄膜.文中对上述实验现象作了初步的解释.

关 键 词:Bi3.54Nd0.46Ti3O12薄膜  测试频率  抗疲劳特性
文章编号:1000-2073(2007)03-0037-05
收稿时间:2007-02-26
修稿时间:2007年2月26日

Effect of measuring frequency on the electric fatigue properties of neodymium-doped Bi4Ti3O12 films
Zhang Pengzhan,Shen Mingrong,Chen Lili.Effect of measuring frequency on the electric fatigue properties of neodymium-doped Bi4Ti3O12 films[J].Journal of Suzhou University(Natural Science),2007,23(3):37-41.
Authors:Zhang Pengzhan  Shen Mingrong  Chen Lili
Abstract:
Keywords:Bi3  54Nd0  46Ti3O12film  measuring frequency  electric fatigue
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