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PbTiO3铁电薄膜的应力与尺寸效应
引用本文:唐春红,李立本,唐曙光,王铁平,崔云康,吴庆春.PbTiO3铁电薄膜的应力与尺寸效应[J].苏州大学学报(医学版),2004,20(3):49-54.
作者姓名:唐春红  李立本  唐曙光  王铁平  崔云康  吴庆春
作者单位:南京工程学院基础部,江南科技大学数理系,南京工程学院基础部,南京工程学院基础部,南京工程学院基础部,南京工程学院基础部 江苏南京 210013,河南洛阳,471003,江苏南京 210013,江苏南京 210013,江苏南京 210013,江苏南京 210013
基金项目:南京工程学院基金资助项目(KXJ040100)
摘    要:用推广的Landau Devonshire理论研究了应力与尺寸效应对PbTiO3(PTO)薄膜的铁电/介电性质的影响.研究表明:在外推长度δ>0时,张应力使膜的相变温度降低、自发极化减小,压应力使膜的相变温度升高、自发极化增加.在温度一定时PTO薄膜存在一个临界应力σc,当应力大于σc时,任意膜厚都保持顺电相.当应力小于σc时,存在尺寸驱动的相变,即当膜厚大于临界尺寸Lc时,膜进入铁电相;而当膜厚小于临界尺寸Lc时,膜处于顺电相.

关 键 词:薄膜  铁电相  顺电相  应力  临界尺寸
文章编号:1000-2073(2004)03-0049-06
修稿时间:2003年9月10日

The effects of stress and size in PbTiO3 ferroelectric ultrathin films
TANG Chun-hong,LI Li-ben,TANG Shu-guang,WANG Tie-ping,CUI Yun-kang,WU Qing-chun.The effects of stress and size in PbTiO3 ferroelectric ultrathin films[J].Journal of Suzhou University(Natural Science),2004,20(3):49-54.
Authors:TANG Chun-hong  LI Li-ben  TANG Shu-guang  WANG Tie-ping  CUI Yun-kang  WU Qing-chun
Institution:TANG Chun-hong~1,LI Li-ben~2,TANG Shu-guang~1,WANG Tie-ping~1,CUI Yun-kang~1,WU Qing-chun~1
Abstract:
Keywords:thin films  ferroelectric  paraelectric  stress  the critical thickness
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