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磁控溅射法生长ZnO薄膜的结构和表面形貌特性
引用本文:潘峰,郭颖,陈长乐,文军.磁控溅射法生长ZnO薄膜的结构和表面形貌特性[J].陕西理工学院学报(自然科学版),2010,26(4).
作者姓名:潘峰  郭颖  陈长乐  文军
摘    要:采用射频磁控溅射方法,在Si(111)和玻璃基片上制备ZnO薄膜.研究衬底温度和基片类型对薄膜结构、表面形貌的影响.结果显示,所有ZnO薄膜沿c轴择优生长,同种基片类型上生长的薄膜,随着衬底温度升高,(002)衍射峰强度和表面粗糙度增高;相同衬底温度下生长的ZnO薄膜,Si基片上制备的薄膜(002)衍射峰强度和表面粗糙度小于玻璃片上的.基片类型影响薄膜应力状态,玻璃片上制备的ZnO薄膜处于张应变状态,Si基片上的薄膜处于压应变状态;对于同种基片类型上生长的ZnO薄膜,衬底温度升高,应力减小.Si衬底上、300℃下沉积的薄膜颗粒尺寸分布呈正态.

关 键 词:ZnO薄膜  衬底温度  衬底类型  结构  表面形貌

Structure and morphology characteristics of ZnO thin films grown by RF magnetron sputtering
PAN Feng,GUO Ying,CHEN Chang-le,WEN Jun.Structure and morphology characteristics of ZnO thin films grown by RF magnetron sputtering[J].Journal of Shananxi University of Technology:Natural Science Edition,2010,26(4).
Authors:PAN Feng  GUO Ying  CHEN Chang-le  WEN Jun
Abstract:
Keywords:
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