温度应力下功能退化型加速寿命试验问题研究

该文针对研究无线电引信长期贮存可靠性,根据电子元器件参数随贮存时间变化的规律,确定并建立温度为应力的功能退化型加速寿命试验模型。根据加速寿命试验结果推出一般状态下电子元器件的性能变化规律,通过阿伦尼斯模型推导出加速寿命系数。该文还对加速系数和激活能进行了进一步讨论,并就线性规律、指数规律和幂函数规律等几种常见的功能退化规律,推导出加速系数和激活能计算公式,并通过实例计算出产品的综合激活能。