| 基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计 |
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| 引用本文： | 向东,顾珊,徐奕.基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计[J].清华大学学报(自然科学版),2003,43(7):1001-1004. |
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| 作者姓名： | 向东 顾珊 徐奕 |
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| 作者单位： | 1. 清华大学,软件学院,北京,100084
2. 清华大学,微电子学研究所,北京,100084 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(96773030) |
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| 摘 要： | 时序电路的测试生成非常复杂.时序电路的可测性设计对于指导电路设计及测试生成是十分重要的.基于对在测试生成过程中的难测故障进行冲突分析,提出了一种新的评价电路可测性的测度conflict+,并在此基础上提出了一种两阶段的非扫描可测性设计方法.这种新的测度可以体现出时序ATPG中的绝大部分特征.运用该方法对一些实验电路进行可测性设计后,结果表明比近期的两种非扫描可测性设计方法nscan和lcdft在故障覆盖率、测试效率等方面都取得了更好的效果.
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| 关 键 词： | 测试和检验 快速测试 冲突 包含赋值 非扫描可测性设计 |
| 文章编号： | 1000-0054(2003)07-1001-04 |
| 修稿时间： | 2002年8月26日 |
Non-scan testability based on fault-oriented conflict analysis |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | test and check at-speed test conflict containing assignment non-scan des ign for testability |
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