| 纸色谱分离电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中痕量Nb，Ta |
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| 引用本文： | 金同顺,吴爱萍,陈逸君,贝源,李忠,戴乐美.纸色谱分离电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中痕量Nb，Ta[J].南京大学学报(自然科学版),1995(3). |
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| 作者姓名： | 金同顺 吴爱萍 陈逸君 贝源 李忠 戴乐美 |
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| 作者单位： | 南京师范大学理化中心，南京大学地球科学系，南京大学现代分析中心 |
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| 摘 要： | 采用纸色谱分离技术，用ＩＣＰ—ＡＥＳ法测定地质样品中痕量Ｎｂ和Ｔａ。有效地消除了基体元素干扰，提高了灵敏度，降低了检出限。Ｎｂ和Ｔａ的检出限分别为０．００１μｇ／ｍｌ和０．００８μｇ／ｍｌ；精密度Ｎｂ为０．０５Ｔａ为０．００７。方法用于检测了日本标准样ＪＧ─２和ＧＳＲ系列管理样，结果令人满意。
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| 关 键 词： | 纸色谱，ICP—AES法，Nb和Ta |
A New Method to Determine The Traces of Nb and Ta using Paper Chromatography and ICP-AES |
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| Jing Tongshun , Wu Aiping , Chen Yijun , Bei Yuan , Li Zhong , Dai Lemei.A New Method to Determine The Traces of Nb and Ta using Paper Chromatography and ICP-AES[J].Journal of Nanjing University: Nat Sci Ed,1995(3). |
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| Authors: | Jing Tongshun Wu Aiping Chen Yijun Bei Yuan Li Zhong Dai Lemei |
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| Institution: | Jing Tongshun 1), Wu Aiping 2), Chen Yijun 3), Bei Yuan 3), Li Zhong 3), Dai Lemei 3) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | paper Chromatography ICP-AES Nb and Ta |
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