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纳米三坐标测量机不确定度分析与精度设计
引用本文:杨洪涛,费业泰,陈晓怀.纳米三坐标测量机不确定度分析与精度设计[J].重庆大学学报(自然科学版),2006,29(8):82-86.
作者姓名:杨洪涛  费业泰  陈晓怀
作者单位:合肥工业大学,仪器科学与光电工程学院,安徽,合肥,230009;安徽理工大学,机械工程系,安徽,淮南,232001
摘    要:利用现代精度设计理念设计纳米三坐标测量机的结构,选用高精度的零部件进行组装,解决了传统阿贝误差问题,通过研究现代精度保障理论和技术,进行纳米级水平的误差源全面分析,推导各个不确定度分量的计算公式,根据给定的精度指标设计合理的精度,提出所需检定仪器的具体技术指标,精度设计的结果满足了纳米三坐标测量机的测量精度要求.

关 键 词:纳米三坐标测量机  阿贝误差  全误差源分析  不确定度  精度设计
文章编号:1000-582X(2006)08-0082-05
收稿时间:2006-03-12
修稿时间:2006年3月12日

Uncertainty Analysis and Accuracy Design of Nano-CMM
YANG Hong-tao,FEI Ye-tai,CHEN Xiao-huai.Uncertainty Analysis and Accuracy Design of Nano-CMM[J].Journal of Chongqing University(Natural Science Edition),2006,29(8):82-86.
Authors:YANG Hong-tao  FEI Ye-tai  CHEN Xiao-huai
Abstract:By using advanced accuracy design concept,Nano-CMM's structure is designed,which is set-up by choosing high degree of accuracy components.The traditional Abbe error is solved due to the design of the structure of the Nano-CMM.By studying the modern accuracy ensuring theory and technique,the nanometer level's analysis of total error source of the Nano-CMM is processed.The uncertainty calculating formula is deduced.The reasonable error distributing and design are done according to the given accuracy target.The needed nanometer level calibrating instruments' technic index are put forward.The result of accuracy design meets the measuring accuracy demand of Nano-CMM is made.
Keywords:Nano-CMM  Abbe error  analysis of total error source  uncertainty accuracy design
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