首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

磁控溅射Pt薄膜织构的X射线衍射分析
引用本文:刘超前,李伟力,费维栋. 磁控溅射Pt薄膜织构的X射线衍射分析[J]. 南京大学学报(自然科学版), 2009, 45(2)
作者姓名:刘超前  李伟力  费维栋
作者单位:哈尔滨工业大学材料科学与工程学院,哈尔滨 150001
摘    要:本文利用X射线衍射技术表征了磁控溅射Pt薄膜的纤维织构.并给出了一种表征薄膜纤维织构的一般性方法.研究结果表明,利用X射线衍射的特殊扫描方式可以实现薄膜纤维织构的定量和定性表征.对于制备态Pt薄膜而言,织构漫散 400℃退火后,薄膜{111}型纤维织构变强,表明Pt薄膜的强{111}织构系退火时薄膜的再结晶所致.

关 键 词:薄膜  Pt  织构  X射线衍射

X-ray diffraction analysis of Pt film prepared by magnetron sputtering method
Liu Chao-Qian,Li Wei-Li,Fei Wei-Dong. X-ray diffraction analysis of Pt film prepared by magnetron sputtering method[J]. Journal of Nanjing University: Nat Sci Ed, 2009, 45(2)
Authors:Liu Chao-Qian  Li Wei-Li  Fei Wei-Dong
Affiliation:School of Materials Science and Engineering;Harbin Institute of Technology;Harbin;150001;China
Abstract:
Keywords:film  Pt  texture  X-ray diffraction  
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号