金属微粒—介质复合薄膜(Ag—BaO)的正电子湮没寿命实验 |
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引用本文: | 李丽君,吴锦雷.金属微粒—介质复合薄膜(Ag—BaO)的正电子湮没寿命实验[J].北京大学学报(自然科学版),1999,35(3):391-394. |
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作者姓名: | 李丽君 吴锦雷 |
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摘 要: | 以真空蒸发方式制备的金属微粒-介质复合薄膜,会存在各种不同的微观结构缺陷,为研究它的这种缺陷,制备了Ag微粒-介质(BaO)复合薄膜,并在不同温度下退火,对这些样品做了正电子湮没有寿命实验,结果发现随退火温度升高正电子湮没平均寿命减少,这是因为表征金属微粒与介质之间界面状况的缺陷退火而得到改善。
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关 键 词: | 金属微粒 正电子湮没 薄膜 缺陷 介质 |
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