CKT021B磁卡磁头的研制

采用具有高饱和磁感应强度的铁硅铝材料，研制适应高矫顽力磁卡读写的磁头，它性能稳定，可替代进口产品，应用于银行通讯等系统。     

磁盘表面形貌对润滑剂分布及磁头／磁盘之间润滑剂转移的影响

磁盘表层润滑剂在磁头与磁盘之间转移会影响磁头飞行的稳定性．本文采用改进后的粗粒珠簧模型，运用分子动力学方法，研究了磁盘上类金刚石薄膜（diamondlikecarbon，DLC）层粗糙度和磁盘表面凸起对润滑剂在磁盘表面分布及磁头／磁盘之间润滑剂转移的影响．研究结果表明，DLC层粗糙度对润滑膜平均厚度及磁盘表层粗糙度的影响很小；磁盘表面凸起对磁盘表层润滑剂分布的影响明显．类金刚石薄膜层的粗糙度和磁盘表层凸起均可增加转移到磁头上的润滑剂的体积．但磁盘表层粗糙度对磁头／磁盘之间润滑剂转移量的影响明显低于由磁盘表层凸起导致的磁头／磁盘之间润滑剂的转移量．     

高灵敏度的具有Ni过渡层的Co／Cu／Co三明治膜的巨磁电阻效应

研究了具有不同厚度Ｎｉ过渡层的Ｃｏ５．０ｎｍ／Ｃｕ３．５ｎｍ／Ｃｏ５．０ｎｍ三明治膜的巨磁电阻效应，发现Ｎｉ过渡层可以大大地提高材料的灵敏度。不同程度Ｎｉ过渡层的Ｃｏ／Ｃｕ／Ｃｏ三明治膜的磁电阻值在３．５％和５．６％之间，相应的矫顽力在０．９５ｋＡ／ｍ附近。因此，材料的灵敏度最大可以达到３９％ｋＡ．ｍ＾－１。原子力显微镜给出的表面形貌表明Ｎｉ过渡层提高了材料的平整度，从而导致大的巨磁电阻值。而电阻     

磁头芯片的研制

通过对１Ｊ８８、１Ｊ８９软磁合金进行热处理、制板以及用化学试剂进行双面光刻腐等系列工艺制成磁头芯片，其特点是磁性好，在电子行业有着广泛的用途．     

高面密度垂直记录交叉方位角记录方式研究

研究了垂直记录单极型磁头的偏道特性及串音特性。在此基础上，提出了一种利用交叉方位角记录方式，减小实际记录道宽，消除保护带，从而充分利用磁盘记录媒体表面的新方法，在实现高道密度磁记录的同时，提高记录面密度。为实现这一目的而设计制作的双道方位角磁头，用于软盘系统，比相同宽度的普通头提高道密度一倍以上。     

软盘驱动器的维护

文章详细阐述了计算机常用3．5英寸软盘驱动器经常出现的故障及其排除方法，重点讲解了软驱寻道故障、软驱磁头故障和软驱写保护故障．     

磁头飞行姿态测试系统的研究

本文介绍了一种新型的磁头飞行姿态测试系统,其基本原理为激光多谱勒测量原理。通过简单的切换,可对磁头的面内运动姿态和面外运动(法向)姿态及头盘间隙进行动态非接触测量。     

头盘微小间隙动态浮动理论研究

本文对微小浮动间隙的磁头浮动块的动态浮动性能进行了仿真计算。在考虑头盘碰撞的基础上,分析了磁头浮动块对冲击的响应。分析结果表明:在微小浮动间隙的头盘系统中,盘片表面粗糙度和外界干扰冲击对浮动块的浮动性能影响较大。新的动态浮动理论中,必须包含头盘磁撞的研究。