SoC的可测试性设计技术

基于可复用的嵌入式IP（intellectual property)模块的系统级芯片（SoC)设计方法使测试面临新的挑战，需要研究开发新的测试方法和策略，结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点。详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术，分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点，着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案；IEEEP1500和虚拟插座接口联盟（VSIA）测试访问结构。