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用场效应法研究GD-a-Si_xC_(1-x)∶H薄膜的隙态密度 总被引:1,自引:0,他引:1
利用场效应法测得了 GD—a—SixCl一x∶H 膜的 ID~VG 曲线,得到了 N(E)~E 关系,对这些实验结果进行了初步的讨论. 相似文献
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本文对掺Mn的硫系玻璃Ge_(15)Te_(81)S_2Sb_2样品,进行了电导率与温度关系、ESR信号和X衍射强度曲线的测量,并研究了Mn杂质对非晶态半导体导电和结构的影响。 相似文献
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本文主要研究了Mn杂质在非晶半导体As_(35)Te_(55)Si_(10)中引起的缺陷态及对电导特性的影响。实验结果表明:在所有掺Mn的样品中,均显示出低温变程跳跃电导;随掺Mn量的增大变程跳跃电导更加明显,而且使变程跳跃电导向更低的温度方向推移。这些结果同Hauser等人在a-(As_2Te_3)_(1-x)Mn_x薄膜样品中所观测的结果几乎完全一致,文中对这种观象作了初步的讨论。 相似文献
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本文主要介绍了 GD—a—SiC∶H 薄膜长时间光照前后暗电导、光电导、缴活能的变化,并介绍了光照前后光电流与光强的关系.实验表明这种变化与样品的费米能级位置有关,电导激活能小的样品呈现正常的 S—W 效应.电导激活能大的样品呈现反常的 S—W 效应。 相似文献