电火花线切割机床数据输入系统的改进

用通用计算机模拟程控机头，通过计算机的并行打印端口将加工程序输入到线切割机床控制器的内存中，极大地减少程序输入的误码率，提高生产率和改善了工作条件，对加工形状复杂的工件有重要意义。     

一种新的单片机和AT机通用键盘的接口

介绍一种C505CA单片机与AT机通键盘的新的接口电路,该接口电路既能接收AT机键盘的接通码,也能接收断开码,又不占用单片机的串行口。     

基于DMC204的数控系统开发与应用

提出了在Windows操作系统平台上实现实时多任务处理的CNC系统控制体系结构，并依据这一结构方案，具体实现了一个具有开放性、模块化特征的简易CNC应用软件，该数控软件在经改造后的CK6140H普通车床上应用结果表明，车床的运行精度和效率大为提高。     

培养神经元网络自发活动规律性和复杂度分析

采用近似熵（approximate entropy,ApEn）的新统计方法衡量神经元不同自发放电活动时间序列数据的规律性和复杂度,对多电极阵列上培养的海马神经元网络自发活动的复杂度进行研究．结果表明不同自发放电活动的近似熵动态变化曲线有明显差别．静息期时近似熵值范围1．0-1．2;典型爆发活动时近似熵值呈现迅速下降而后上升再下降小幅振荡（0．2-0．6）;而伪爆发活动时近似熵值在0．2—0．7范围,沿平行时间轴的某一直线上下波动;连续发放锋电位时近似熵值在0．8-0．9范围;而随机单发锋电位时近似熵值0．6—0．8范围．以上分析结果说明近似熵动态变化曲线能够体现爆发活动和锋电位发放过程的规律性和复杂度变化,并可以有效地识别培养神经元网络自发的不同电生理信号,因而在神经元电信号分析中有着潜在的应用价值．     

SIMLAB在自动控制原理实验中的应用

论述了计算机仿真技术在"自动控制原理”实验教学中的应用,利用SIMLAB软件改进实验方法,改善实验效果,并通过实例说明了该软件的使用方法.     

The multi-motion-overlap algorithms for minimizing the time between successive scans of wafer stage

In order to optimize the transitional time during the successive exposure scans for a step-and-scan lithography and improve the productivity in a wafer production process, an investigation of the motion trajectory planning along the scanning direction for wafer stage was carried out. The motions of wafer stage were divided into two respective logical moves （i. e. step-move and scan-move） and the multi-motionoverlap algorithms （MMOA） were presented for optimizing the transitional time between the successive exposure scans. The conventional motion planning method, the Hazelton method and the MMOA were analyzed theoretically and simulated using MATLAB under four different exposure field sizes. The results show that the total time between two successive scans consumed by MMOA is reduced by 4.82%, 2.62%, 3.06% and 3.96%, compared with those of the conventional motion planning method; and reduced by 2.58%, 0.76%, 1.63% and 2.92%, compared with those of the Hazehon method respectively. The theoretical analyses and simulation results illuminate that the MMOA can effectively minimize the transitional step time between successive exposure scans and therefore increase the wafer fabricating productivity.     

工艺约束策略下的二维不规则零件排样算法

针对已有排样算法在实际工业生产情况下缺乏对零件工艺约束等问题,提出一种基于工艺约束策略的二维不规则排样算法(PCTNA)。该算法结合临界多边形算法,通过对零件内含有的空洞进行填充,实现提高被加工板材材料的利用率;再通过引入等距偏移思想,解决实际生产时所需要的零件间的工艺间隙问题。通过对欧洲排样问题兴趣小组提供的测试算例进行实验测试,从12个测试算例的测试结果得到平均时间优化比率为10.33%,平均路径优化比率为11.06%,实验结果显示PCTNA可以降低排样的切割时间和减少路径,提高切割效率。     

多轴激光位移测量同步采样技术

采用基于广播总线的同步采样技术,提出6轴高精密XY工件台激光位移测量的同步测量架构.设计专门的同步动作控制器和同步信号总线,实现6轴激光位移测量系统的同步采样,提高了数据采样频率.结果表明:6个激光测量轴之间的同步采样时间误差最大为1.616ns,并由此引起的位移测量误差是0.808nm;在硬件读取数据方式下,6个激光测量轴最高采样频率可达640kHz.     

直线倒立摆系统的输入整形技术开发

针对目前缺乏输入整形技术的实验平台,提出在保持现有直线倒立摆实验系统条件下进行的二次开发,使其能够完成新的实验功能。该实验平台不但能够为本科生提供自动控制原理学习的实验,而且可作为研究生研究输入整形理论和实验相互验证的平台。从而提高该实验设备利用率,最大程度地实现资源共享。