一个改进的车牌号码倾斜校正方法

在智能交通系统中，车牌号码倾斜校正是预处理的重要步骤．论文使用加权最小二乘法，把车牌区域拟合成一条直线，然后求得该直线斜率，并计算倾斜车牌图像的倾斜角％最后把图像旋转一Ⅸ完成倾斜校正．实验结果表明：论文方法能快速准确地检测出图像的倾斜角，并具有较强的适应性．与最小二乘法拟合直线比较，倾斜角精度更高，目标函数值更少；与Hough变换校正相比较，论文算法处理时间更短，倾斜角测量精度更高．     

SiO_2含量对损耗型CoFeB-SiO_2颗粒膜电磁性能的影响

研究一种可应用于抗电磁干扰和微波吸收的磁性纳米颗粒膜,选用FeCoB作为磁性合金,SiO2为电介质材料,采用磁控溅射工艺制备纳米颗粒膜.重点研究电介质SiO2体积分数对颗粒膜微结构以及电磁性能的影响规律和作用机理.结果表明,适当的电介质体积分数可使颗粒膜保持微波高磁导率和高磁损耗并有效降低介电常数,2 GHz时,复磁导率的实部μ′=31,虚部μ″=45,复介电常数实部ε′=671,虚部ε″=593.     

天业热电厂脱硫运行中的问题和解决方法

新疆天业4×135MW自备热电厂脱硫工艺是采用电石渣--石膏湿法脱硫,在实际运用中出现脱硫效率下降、石膏脱水效果差、含水率高、循环泵入口滤网损坏、脱硫系统被迫停运的事故,结合调查研究,全面分析,总结出了造成这起事故的主要原因,提出了脱硫运行技术、运行管理和工艺改进措施。通过实际证明:这些措施对于脱硫系统安全稳定的长周期运行有着很大的作用。     

电导率对纳米磁性金属膜微波吸收性能的影响

基于纳米金属膜电导率和介电性的理论基础,采用0.05～5 GHz 宽频带扫频测量所得的复磁导率,计算分析电导率对具有不同微波磁谱特性的纳米磁性金属膜吸波性能的影响.研究结果表明具有较高磁导率的纳米磁性膜,当其电导率低于100 S/m 时,该薄膜材料在微米级厚度时就具有良好的吸波性能,即在0.05～5 GHz 的宽频段反射率小于-4 dB;降低薄膜电导率可以显著改善薄膜吸波材料的电磁匹配性能,从而提高其吸波性能.     

影响氢化物电极放电过程的因素

为设计和筛选高性能贮氢合金，对影响氢化物电极放电过程的因素进行理论研究，根据氢化物电极的结构及放电过程，推导出多孔氢化物电极的极化方程。实验结果表明，在制备氢化物电极时，应注意选择贮氢合金颗粒尺寸和填充密度来增大单位体积反应层中的反应表面积和缩短氢扩散距离，以降低氢浓差极化程度；注意添加催化剂，降低电化学极化程度，并添加导电剂，以降低电极的电阻极化程度。     

纳米晶Fe85Si1Al6Cr8片状颗粒材料微波吸收特性

采用快淬工艺和高能球磨处理技术制备了纳米晶FeSiAlCr片状颗粒材料．研究了高能球磨处理工艺对材料微结构、形貌和微波电磁特性的影响。结果表明高能球磨处理使球形粉粒形状扁平化并细化其晶粒，从而使FeSiAlCr颗粒材料的微波磁导率显著提高，介电常数被有效控制．对用该材料制作的涂层吸波性能进行了计算模拟，结果表明在4GHz附近微波段具有良好吸波性能．     

寻优方法在医学图像配准中性能比较研究

医学图像配准是以相似性测度为目标函数,通过多参数优化方法寻找最佳变换参数的过程.本文以MI为相似性测度,通过分别使用Poweli算法和PSO法等方法寻优得到最佳变换参数,并对它们的性能进行了比较.实验结果表明,Powell法适合于单、多模态配准;虽然PSO法能成功配准,但是寻优效率有待提高,有必要在精度和时间效率之间进...     

高速钢工具的PAMOCVD涂层研究

为解决传统的TiCl_4-H_2-H_2体系进行PCVD TiN过程中对炉体和真空系统的腐蚀、氯元素进入涂层等问题,作者采用金属有机物TPT或TET代替TiCl_4作为供钛源进行PAMOCVD涂层处理。研究了不同工艺参数对涂层性能的影响。通过对涂层钻头、冲头寿命的对比试验表明:PAMOCVD涂层钻头比未涂层的提高近6倍;比PCVDTiN涂层钻头提高2—3倍;标准件冲头PAMOCVD涂层比不涂层提高寿命1—2倍,并解决了对设备的腐蚀问题。     

高磁损耗型纳米多层膜研究

研究一种能用于微波吸收的高磁损耗型纳米多层膜材料，该多层膜材料采用软磁合金层CoFeZrNd和绝缘介质层SiO2交替的周期结构，用磁控溅射工艺制备的这类薄膜在微波段可具有高磁导率和大磁损耗，2GHz时μ121，μ147．重点探讨了磁性合金层厚度、介质层厚度、周期数等对这类多层膜材料微波复磁导率的影响规律和机理．     

薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究

采用谐振腔法对薄膜材料复介电常数和复磁导率进行了测试研究。依据腔内电磁场的特性及薄膜材料体积小的特点，采取了较大的模指数、高品质因数、小耦合系数等措施，设计了在2GHz频率下工作模式为TE105的矩形谐振腔。使用Agilent 8722ES络分析仪进行扫频反射测量，由放置试样前后腔的谐振频率和品质因数以及试样的体积等计算出薄膜材料复介电常数和复磁导率，该方法操作简便，准确性较高。