高温氧化膜Cr2O3和NiO中应力松弛过程

用Ｘ射线原位应力测定了高温氧化膜Ｃｒ２Ｏ３和ＮｉＯ中的应力．结果表明,Ｃｒ２Ｏ３／Ｃｒ和ＮｉＯ／Ｎｉ体系氧化膜的生长应力分别为－１．９４９ＧＰａ和６５２ＭＰａ．在冷却过程中,Ｃｒ２Ｏ３／Ｃｒ体系发生很大的应力松弛过程,其主要表现形式为氧化膜翘曲和开裂;而在ＮｉＯ／Ｎｉ体系中,由于ＮｉＯ薄膜具有双层结构承受不同应力状态而获得松弛．     

薄膜X射线应力分析技术的研究

由于Ｘ射线薄膜衍射几何的特点，致使薄膜Ｘ射线应力分析的精度很难达到常规应力分析水平，本研究采用真空光，内标校正的途径来提高薄膜Ｘ射线应力分析的精度，同时，为了测定薄膜生长过程中的生长应力，文中还介绍了高温薄膜应力分析的技术。     

高温氧化薄膜应力的测定

介绍一种高温氧化薄膜应力的测定技术，它能在一定高温氧化条件下原位测定氧化膜中的生长应力，在某一温度变化范围内原位氧化膜中的热应力，这种技术档以普通衍射仪上进行。     

碳纤维的X射线显微结构分析

本文利用 X 射线衍射方法(包括小角散射方法)研究了四种碳纤维的显微结构,其中包括“乱层石墨”结构的层间距 C_0,层面堆垛的平均高度 L_c、层面的平均宽度厶、取向度 W_(1/2)以及碳纤维的平均显微孔洞等的测定,文中还提出了关于小角散射数据处理的计算程序。     

旋压药形罩织构的测定——旋压药形罩旋转补偿机理探讨阶段总结

前言 在前一段对某破甲弹采用旋压药形罩具有一定旋转补偿作用的机理初步探讨基础上,我们进一步测定了旋压药形罩的织构,初步认为:由于旋压产生的织构不对称性是旋压罩具有旋转补偿作用的重要因素。     

无损测定金属表层三维应力分布的研究

各种具有强烈织构或经过磨削、轧制及其它表面处理的金属材料其表层往往存在激烈的应力梯度,应力主平面很可能不再平行于试样表面(σ_(13),σ_(23),σ_(33)≠0),所以表层呈三维应力的层深分布,不能再用常规的X射线应力测定方法来侧定其应力。在以往工作的基础上,本文介绍一种新的三维应力测定方法,与此同时,还提出了无损测定金属表层三维应力层深分布的新途径。有关试验在附有试样侧倾装置的衍射仪上进行。     

用示差法直接测定点阵常数的微小变化

本文提出了一种直接测定两个点阵常数差值的方法。它是利用示差试样装置测定处于相同实验条件下的一对试样同组晶面(hkl)的衍射峰。利用相关函数求出其布拉格角位置差值(⊿2θ),进而算得点阵常数之差值。由于示差试样装置便于自制,试验步骤也较简单,能在所有的衍射仪上进行该项试验。