排序方式: 共有18条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
离子束轰击钨合金表面碳膜的AES和XPS分析 总被引:2,自引:2,他引:0
钨合金是一种重要的合金材料 ,由于它具有密度大、强度高及足够的韧性 ,因此 ,在医疗器械、军工装备等一些特殊使用的器件上有着重要的用途 [1 ,2 ] .但在实际使用中发现 ,其表面硬度及其耐磨性能尚有不足之处 [3] ,为此我们采用离子束表面强化技术 [4~ 6]以改善其表面性能 .具体做法是 :先在钨合金表面利用磁控溅射技术沉积碳膜 ,再用单一的或混合的离子束进行轰击 ,之后通过使用俄歇电子能谱 ( AES)及 X射线光电子能谱 ( XPS)对其表面进行分析研究 .实验结果表明 ,单独使用氮离子轰击可在钨合金表面形成碳化物 ,有利于提高钨合金的表… 相似文献
2.
3.
快中子核次临界的多群蒙特卡罗计算 总被引:3,自引:3,他引:0
给出了用多群蒙特卡罗方法计算核裂变系统有效增殖因子、中子通量能谱和啊子泄漏谱等的方法,对球快中子核裂变系统进行了多群蒙特卡罗次临界计算。以连续光滑曲线的形式给出了中子通量能谱和泄漏谱,谱图清晰地显示了符合中子输运规律的精细情况。 相似文献
4.
5.
作者用活化法相对于Au的中子俘获截面,测量了162~1200keV能区^174Hf(n,γ)^175Hf的反应截面,测量误差为6.1%~7.2%,在现有文献中还未见有关该反应截面的测量数据。 相似文献
6.
用小波分析方法提高γ谱弱峰检测能力的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
作者用小波变换方法,测量了在强本底下的从201keV到628keV的^133Bay能谱,计算了用自适应阈值分段处理和全谱处理及传统5点一次平滑处理前后320.8keV特征γ射线峰面积的统计误差、信噪比、判断限、优质因子.通过比较,证明用小波分析中的自适应阈值法对γ谱进行分段处理,可提高弱峰的检测能力. 相似文献
7.
用不同能量和注量的电子辐照BaF2∶Sr晶体,分别测量了辐照前后的正电子寿命谱和吸收谱。为了与正电子寿命谱结果对比,也测量了相应的荧光谱。结果表明,在能量为1.5MeV和1.8MeV,注量为1.25×1015到2.57×1016e-cm-2mai的电子辐照情况下,在BaF2∶Sr晶体中主要产生F-H对,F色心和其它一些由杂质引起的色心;辐照温度对这些色心的形成和演化过程有较大的影响。 相似文献
8.
将统计性不确定度评价方法应用到高纯锗(HPGe)探测器参数的标定和修正工作中. 结合蒙特卡洛模拟和统计性不确定度评价方法,分析探测器参数在探测效率模拟结果中的相对重要性,对重要参数同时进行多次简单蒙卡抽样,模拟计算探测器对多空间点多γ源的探测效率,找出真实效率与模拟效率的最小偏差,即能确定最佳探测器参数. 结果表明,此方法修正探测器参数后,对60Co,137Cs, 241Am源在标定点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%,在3个验证点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%. 相似文献
9.
在计算机物理中,物体的几何描述和输入的正确与否上直接影响着计算结果的正确性,我们针几何描述的特点,通过改进三维视像变换方法,用取特殊的消隐技术,运用伪彩色、明暗等技术和OOP方法,设计实实现了一种几何描述的三维可视化方法,为几何描述的正确性提供了一种直观有效的检验手段。 相似文献
10.
高纯锗γ谱仪对环境样品探测效率的模拟计算 总被引:12,自引:3,他引:9
作者利用蒙特卡罗方法,模拟计算了高纯锗γ谱仪对环境样品探测效率与γ射线能量、样品介质成份、密度及几何高度的关系,并与实验结果进行了比较.结果表明,蒙特卡罗计算方法是进行高纯锗γ谱仪效率刻度的一种方便、可靠的方法. 相似文献