网络关系管理与现代工商企业品牌战略研究

网络关系普遍存在于工商企业内部环境与广大的外部环境中,网络关系的变化严重影响着工商企业的品牌战略。工商企业品牌战略应适应社会网络关系的内涵需要,建立自己独特的品牌理念,输入到社会网络关系之中。促进品牌战略实施,有效管理网络关系,实施品牌战略的工商企业要适应社会网络关系的变化及市场变化,进行工商企业体制改革,管理机制不断创新,在网络关系中“嵌入”品牌的CIS,提升品牌美誉度,构建品牌管理机制,加快工商企业的信息化建设,丰富品牌内涵,充分挖掘品牌效益,加快连锁经营,合理链接品牌的过去、现在与未来。     

融入研究性学习思想的半导体物理教学改革与实践

半导体物理由于对先修课程的知识要求高、基本概念多、理论推导繁琐,致使大多数学生对该课程的学习兴趣不高。针对在教学中出现的这种情况,我们实施了一种融入研究性学习思想的半导体物理教学改革。将科研过程中涉及半导体物理知识的一些研究问题与解决方法渗入到半导体物理的教学中,引导学生自主学习,加强理论知识与科研实践的有效结合。该教学方法极大地提高了学生的学习积极主动性,增强了学生的创新意识,收到了良好的教学实践效果。     

Pb-Sn-Bi三元系α相固溶体的点阵参数

应用X射线衍射法测定了Pb-Sn-Bi三元系Pb基α相固溶体的点阵参数,发现点阵间距与成分呈线性变化,对两批实验数据分别进行回归分析,得到点阵参数-浓度关系的统一解析式: α=0.49495X_(Pb)+0.47813X_(Sn)+0.50629X_(Bi)。其F检验置信度大于99.9％,残余标准差σ=6.4×10~(-5) nm,分析点阵畸变的影响因素表明尺寸效应是控制固溶体点阵行为的主要因素。     

浅析防止地下室渗漏

地下室防水工程渗漏是普遍存在而又棘手的质量问题,它不仅影响地下室的使用功能,而且直接危及整个建筑工程。笔者结合自己的工作实践,归纳出地下室防水工程渗漏的几种主要原因,并提出相关预防措施。     

级联双稳随机共振降噪下的经验模式分解

针对强噪声背景下混合信号的经验模式分解（EMD）问题,提出了一种基于级联双稳随机共振系统（CBSRS）降噪的EMD方法。该方法利用CBSRS对时域波形降噪的优良特性,首先对有噪信号进行随机共振输出,信号得到降噪后,再进行EMD。在仿真实验中,分别对原始信号以及各级级联随机共振输出后的信号进行EMD,对比结果表明,级联双稳系统能有效去除高频噪声,减少EMD的层数,使EMD具有更明确的物理意义最后通过一个轴承外圈故障的诊断实例表明,该方法在逐步滤除高频干扰的同时,不断加强低频特征能量,可以有效检测出故障的特征频率。     

山东省1960—2009年气温变化特征分析

笔者利用多种方法对山东省1960—2009年的年平均气温、季节平均气温进行了特征分析以及突变检验．分析结果表明：近50年来,山东省年平均气温呈现波动上升趋势,增温速率为0．27℃／10a,并在1997年发生增温突变．增暖趋势的显著性为：冬季〉春季〉秋季〉夏季．春季平均气温增温速率为0．35℃／10a;夏季增温缓慢,以0．08℃／10a的速率增加;秋季增温略低于春季,增温速率为0．23℃／10a;冬季增温趋势最为明显,为0．45℃／10a．季节突变分析表明：春季平均气温在2000年发生突变,秋季均温在2004年发生突变,冬季均温在1986年发生突变．     

用X射线线形精炼法分析纳米晶体的微观结构

利用广角 X射线衍射仪 ,采用单线傅氏线形精炼分析法 ,研究不同制备方法及不同处理条件的纳米晶体的晶粒大小和微观畸变     

一种计算纳米CMOS器件中应力致界面态的方法

在纳米CMOS器件中,负栅压温度不稳定性、热载流子注入效应和栅氧化层经时击穿等应力使得Si/SiO2界面产生界面态,引起器件参数的退化.随着CMOS器件不断缩小,这种退化将严重制约器件性能.提出了一种改进的计算纳米CMOS器件中应力产生界面态的方法,能够对应力产生的界面态进行定量描述.该方法在电荷泵基础上测量纳米小尺寸器件初始状态和应力状态下的衬底电流,提取电荷泵电流(Icp),计算出应力产生的界面态密度.测量过程中,脉冲频率固定不变,降低了频率变化所带来的误差.     

浅析高速公路维修中的施工安全管理

随着高速公路建成投入运营,路面存在不同程度的损坏,对路面的大、中修施工必不可少,高速公路维修施工安全管理有它自己的特殊性,本文从维修施工安全因素对发生事故的原因进行了分析,阐述了预防安全事故的措施。     

DC磁控溅射沉积FexN薄膜成分及生长机制

使用直流磁控溅射方法,Ar/N2作为放电气体,在玻璃衬底上沉积FexN薄膜.利用X射线光电子能谱(XPS)、掠入射小角X射线散射(GISAXS)、X射线衍射(XRD)、掠入射非对称X射线衍射(GIAXD)和原子力显微镜(AFM)研究薄膜的成分和生长机制.实验结果表明,在5%N2流量下获得FeN0.056单相化合物,薄膜中氮原子含量为14%,该值与α\"-Fe16N2相中的氮原子的化学计量(11%)接近;GISAXS和AFM对薄膜表面分析表明,随溅射时间增加,薄膜变得愈加不光滑,用动力学标度的方法定量分析结果为:薄膜表面呈现自仿射性质,静态标度指数α≈0.65,生长指数β≈0.53±0.02,动力学标度指数z≈1.2,薄膜生长符合Kolmogorov提出的能量波动概念的KPZ模型指数规律.