用光反射测试方法检测的硅抛光片和外延片表面的图谱

利用检测半导体硅抛光片及硅外延片表面缺陷的光反射法（魔镜法）［1］,观测到了二十余种硅抛光片及硅外延片表面缺陷的图样．本文报道了部份图样．     

CdS超微粒样品的吸收光谱与荧光光谱分析

介绍了半导体CdS超微粒样品的制备,并对CdS超微粒的光谱特性进行了研究,实验结果表明,CdS超微粒样品的吸收光谱与荧光光谱均表现出明显的量子尺寸效应。     

激光二极管侧向泵浦的Nd:YAG激光器的热效应

分析了激光二极管侧向泵浦的Nd:YAG激光器的热效应、热分布及热焦距,采用传播圆的方法对等效三镜腔进行了分析,用稳腔法对热焦距进行了测量,分析了这种方法的优缺点.     

高转换效率绿光激光器的实验研究

用半导体激光器阵列对称式侧向泵浦Nd:YAG激光棒,改善了基频光质量.同时,提高了KTP倍频晶体的转换效率.其效果明显优于半导体激光器端面泵浦或普通氪灯侧向泵浦方式.通过实验测量到普通氪灯泵浦方式中基频光的平均直径为2.33 mm,LD阵列对称泵浦方式中基频光的平均直径仅为1.22 mm,并且呈现标准的高斯分布,形成了高亮度激光输出.实验研究了Nd:YAG调Q固体激光器的重复频率对KTP倍频晶体转换效率的影响.并且,在基频光平均功率11.2 W时,经KTP晶体倍频产生5.11 W的532 nm绿光输出,光-光转换效率达到45.6%.