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采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素,并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究,建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题,能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素,回收率高于９０％,相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段． 相似文献
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为了解决高纯仲钨酸铵中杂质元素硼的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,考察了酸度、蒸干程度、放置时间等因素对钨的沉淀程度及硼的回收率的影响 ;此外 ,将基体分离与干扰系数校正法相结合 ,建立了简便、快速、准确测定高纯仲钨酸铵中微量硼的新方法 .结果表明 :用该法测定硼的回收率大于 95 .8% ,测定仲钨酸铵中 0 0 0 0x%～ 0 0 0x%硼的相对标准偏差小于 3% ,其准确度及精密度均符合要求 ,能用于出口产品控制分析 . 相似文献
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