二代像增强器 MCP 的 XPS 分析

为降低微通道板（ＭＣＰ）的噪声，提高二代像增强器的产品成品率，该文利用Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）对二代倒像管和近贴管的ＭＣＰ电极表面进行组份分析。实验发现用氩离子（Ａｒ＋）溅射３ｍｉｎ后，在近贴管的ＭＣＰ电极表面检测不到碱金属元素钾（Ｋ）、钠（Ｎａ），而在倒像管ＭＣＰ电极表面Ｋ的含量为２．１６％，Ｎａ的含量为５．６４％，且在ＭＣＰ电极表面发现铅（Ｐｂ）原子谱峰。实验分析认为，ＭＣＰ电极表面吸附的碱金属Ｋ，Ｎａ与从ＭＣＰ体内偏析于表面的Ｐｂ是二代像增强器背景噪声的主要来源之一。     

模拟电子技术教学内容与教学方法的改革与实践

"模拟电子技术"是电气、电子信息类和部分非电类专业一门重要的专业基础课。为了适应电子学科的发展,培养创新型人才,笔者从教学内容、教学方法等方面对"模拟电子技术"进行了改革,提出了切实可行的解决方法和措施。     

二代像增器MCP的XPS分析

为降低微通道板的噪声，提高二代像增强器的产品成品率，该文利用Ｘ光电子能谱对二代倒像管和近贴管的ＭＣＰ电极表现进行组份分析。