纸色谱分离电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中痕量Nb，Ta

采用纸色谱分离技术，用ＩＣＰ—ＡＥＳ法测定地质样品中痕量Ｎｂ和Ｔａ。有效地消除了基体元素干扰，提高了灵敏度，降低了检出限。Ｎｂ和Ｔａ的检出限分别为０．００１μｇ／ｍｌ和０．００８μｇ／ｍｌ；精密度Ｎｂ为０．０５Ｔａ为０．００７。方法用于检测了日本标准样ＪＧ─２和ＧＳＲ系列管理样，结果令人满意。