采用距离分类法的伪随机电流注入模拟电路测试

把距离分类算法同伪随机注入电流测试法结合起来,提出了一种新的采用距离分类法的伪随机电流注入模拟电路测试方法。实验证明,该方法简单有效,是一种可行的模拟及混合电路测试方法。     

一种克服工艺参数影响的IDDT方法

在瞬态电流测试中,即使是同一设计的芯片,由于制作工艺参数的不稳定性,在输入相同的测试向量对时,会产生不同的瞬态电流,这就可能减小故障电路和无故障电路瞬态电流的差别,导致不能对电路是否有故障做出正确的判断。参考稳态电流测试中克服工艺参数影响的方法,针对开路故障,提出了一种在瞬态电流测试中克服工艺参数影响的方法,并利用Pspice软件对这种方法进行了模拟实验。模拟结果证明,该方法是可行的。