基于MSP430F169的集成运放参数测试仪设计

介绍了以MSP430F169单片机为核心的集成运放参数测试仪的设计。阐述了运用辅助放大器法测量集成运算放大器参数的原理,并对单片机控制选择测量参数、切换量程和单片机处理数据的过程做了详细的论述。实验结果表明该测试仪能准确测量运算放大器的输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比等参数。