用 ICP-AES 测定铅钙合金中元素的干扰校正方法

详细研究了ＩＣＰ－ＡＥＳ同时测定铅钙合金中Ｓｎ，Ｃａ，Ａｌ，Ｓｂ，Ａｓ，Ｚｎ，Ｆｅ，Ｍｎ，Ｍｇ，Ｃｒ，Ｃｄ，Ｃｕ，Ａｇ，Ｃｏ和Ｎｉ等１５种元素的非光谱干扰和光谱干扰，建立了数学校正干扰方程．采用此法分析，无须分离基体或基体匹配，就能消除基体中的干扰，并满足合金生产过程控制分析快速、准确的要求．用于实际样品测定，与基体匹配法比，分析结果更加精确．     

在英语教学中培养学生正确阅读的能力

阅读理解的关键在于真正读懂文章。词汇是构成语言的基本元素，而句子则是表达意思的基本结构。读懂每一句话表达的意思是真正读懂一段话、一篇文章的基础。     

原子吸收分光光度法方法研究中应注意的问题

本文在实验基础上提出了原子吸收分光光度法的方法研究应该注意以下问题:一、仪器最佳工作条件的选择必须考虑基体的影响。文中列举了有无基体存在下选择仪器工作条件的四种情况,表明正确选择有可能提高灵敏度和消除基体干扰。二、为了正确判断干扰的存在,必须注意干扰试验加入物的形式以及试剂空白的正确处理。     

ICP-AES测定高纯钨中杂质元素

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素,并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究,建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题,能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素,回收率高于９０％,相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段．     

无中和器离子推力器的发展现状、关键技术及展望

离子推力器具有高比冲和高效率等优势,是目前应用最广泛的电推力器之一,但亦存在着系统结构复杂、关键部件繁多等缺点.无中和器离子推力器可以消除对中和器的依赖,实现离子推进系统结构的简化,从而减小推力器体积和重量并提高系统可靠性.本文首先归纳了传统离子推力器的原理、优势及限制,引出了无中和器离子推力器的概念,对其基本原理、技术优势及分类进行了介绍;随后从等离子体源的束流自中和技术出发,总结了无中和器离子推力器的发展现状;结合空间应用需求以及无中和器离子推力器的工作特点,分析了无中和器离子推力器的关键技术,提出应将工质选择、等离子体机理研究、磁过滤装置和栅极系统设计以及栅极射频电压灵活调控方法这四方面作为其研究重点,同时应该发展并完善新的推力器参数测量方法,进一步明确无中和器离子推力器的工作特性.     

混沌外光注入半导体环形激光器的混沌特性

提出一种将混沌光注入半导体环形激光器(SRL)的方案,以获得具有低延时特征(TDS)的混沌激光,并提高其带宽.在该方案中,主激光器为具有外腔双路相位调制光反馈的分布反馈半导体激光器,将其输出的混沌光同时注入SRL的顺时针和逆时针2个模式中,从而构成混沌外光双模式注入的SRL系统.数值研究外光注入系数和反馈系数等参数对该系统输出混沌光的TDS影响,用自相关函数曲线中延时特征峰的最大值表示延时特征值,将该系统对TDS的抑制效果与混沌外光单模式注入的SRL系统对比,并研究系统输出混沌光的带宽.结果表明,该方案对TDS具有较好的抑制效果,可有效抑制输出混沌光的延时特征,并提高其带宽,最大3 dB带宽可达19 GHz.     

数学方法在原子吸收光谱分析中的应用——测定三氧化钨中铬

本文研究了基体元素钨对原子吸收光谱法测定微量铬的干扰影响,选用适当的高次方程对其干扰曲线进行拟合。利用一系列含有已知含量钨的铬标准溶液的实验数据,用回归分析求得方程系数。以此通过对高次方程求解即可求得三氧化钨试样中铬的准确结果,该法适用于类似干扰存在下的其他元素的准确测定,     

ICP-AES法测定仲钨酸铵中微量硼

为了解决高纯仲钨酸铵中杂质元素硼的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,考察了酸度、蒸干程度、放置时间等因素对钨的沉淀程度及硼的回收率的影响 ;此外 ,将基体分离与干扰系数校正法相结合 ,建立了简便、快速、准确测定高纯仲钨酸铵中微量硼的新方法 .结果表明 :用该法测定硼的回收率大于 95 .8% ,测定仲钨酸铵中 0 0 0 0x%～ 0 0 0x%硼的相对标准偏差小于 3% ,其准确度及精密度均符合要求 ,能用于出口产品控制分析 .     

利用十二烷基硫酸钠的增感作用测定金属钨及三氧化钨中的锰

本文研究了十二烷基硫酸钠(SDS)在原子吸收分光光度法测定钨中锰的增感作用及抑制基体干扰作用,并制定了分析方法。在6％SDS存在下,测定钨中锰的特征浓度为0.035μg/ml/1％,直线浓度范围为0-5μg/ml,并且高至1.0g/50ml的钨也不干扰。该法简便、快速,准确度和精密度均符合要求。对增感机理也进行了探讨。