薄圆盘CsI(Tl)晶体闪烁特性蒙特卡罗模拟

利用蒙特卡罗方法,模拟99mTc 140 keV γ射线在圆盘状CsI(Tl)晶体中的闪烁过程及不同厚度不同包装下闪烁光的空间分布,得出点光源模型对于晶体出光平面上闪烁光强分布是适用的结果.模拟表明,CsI(Tl)与铝(Al)之间界面为粗糙时要比光滑时位置分辨更好;闪烁中心离出光面越近,位置分布越窄;晶体厚度为7 mm时光输出最大,光输出半高宽约为7.3 mm.     

多道ADC与PC机DMA通讯

论文叙述了多道ADC与PC机之间通讯的基本原理和典型工作时序 ,提出了一种以DMA技术为核心的多道分析器PC机接口设计 ,给出了利用该接口构成的计算机多道分析器在测量13 7Cs闪烁γ谱实验中的结果 ,证明它是一种多道ADC与PC机之间实现高速通讯的实用方法 .     

β磁谱仪的改建

我们实验室的无铁双聚焦β磁谱仪是五十年代末由梅镇岳教授等设计和建造的。由于搬迁及长期搁置,谱仪损坏严重,除主磁场同轴线圈仍能使用外,我们另行安装了新的供电系统、真空系统、地磁补偿系统及其自动跟踪,以及数据的自动采集系统,并进行了宽源色散补偿的试验。     

JLab库仑求和规则测试实验量能器性能分析

对6块CsI和NaI晶体组成的量能器(CSR晶体)在美国JLab Hall A实验装置上进行性能测试.0.4～3.6 GeV能量的电子束入射到不同靶(4He,12C,56Fe和208Pb)上,在散射角90°和120°上测量散射电子的能量.进而对CSR晶体以及Hall A原有的铅玻璃量能器进行能量刻度并求得它们的能量分辨率,得出CSR晶体的能量分辨率比铅玻璃的分辨率平均好4倍多,能更好地区分所要的散射电子和要去除的背景电子.由此JLab Hall A的库仑求和规则实验将选用CsI或NaI晶体替代原有的铅玻璃量能器.     

X射线质量厚度测量研究

拟合了能量在200 keV以下的中低能光子质量减弱系数的实验数据,发现基于光电效应,瑞利散射和康普顿散射的半经验公式能够精确地模拟光子质量减弱系数的实验数据.计算了X射线管发出的连续能谱X射线经过吸收片过滤后的能谱分布,发现能谱呈峰形.将它用作物质的透射模拟实验,发现在一定厚度范围内,它与某单能光子的强度减弱规律相同而等效.利用拟合求得的减弱系数半经验公式,求出并讨论了这一等效能量的数值和规律.讨论了X射线束的光电流和光子计数两种探测方式,计算发现经过低能过滤后的X射线,两者都能够反映强度减弱规律.进行了吸收实验,证明低能过滤X射线束的能量探测的确可以用来进行物质的质量厚度测量.     

关于电机机电时间常数数字测量的讨论

在控制工程中,往往需要对电机机电时間常数或对輸出量为轉角的一阶控制系統的时間常数进行測定。传統的方法是对电机或系統輸入一阶跃电压,作出轉速或轉角的响应曲綫,再求得时間常数。这一方法缺点是不太方便,精度得不到保証。本文介紹一种利用瞬态过程对电机机电时間常数或輸出量为轉角的一阶系統的时間常数进行数字測定的方法。方法的要点是:利用光电数字轉速計,在对电机輸入阶跃电压的同时,开启計数器,对軸(軸上粘貼印有条紋的紙条)轉过的表征了轉角的条紋数累计。并在选定的适当閘門时間內完成累計。所累計的脉冲数与接着測定的电机在同一电压下的稳态轉速确定了电机机电时間常数或者是輸出量为转角的控制系統的时間常数。本文对这一方法的原理和精度进行討論,并提供一幅实驗框图。     

BEPC试验束多丝室性能

描述了北京正负电子对撞机直线加速器附设e、π试验束描迹用的多丝正比室.室灵敏面积为67 mm×67 mm,阳极信号给出粒子能量,二维阴极感应脉冲重心读出法给出粒子坐标.实验表明,当工作气体为80%氩20%二氧化碳混合气体,工作电压为3 700V时,对55Fe5.9keV光子阳极能量分辨达到17%,五点读出法位置分辨达到0.11 mm标准差,满足了试验束描迹仪给出的要求.文中介绍了室结构、制造工艺和性能研究,分析了几种函数拟合位置读出和重心位置读出的特点.     

多级雪崩室的性能研究

試制了一个有效面积为100×100mm~2的多级雪崩室。文章简述了这种室的工作原理、结构和性能,并给出了测試结果。