正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界

考虑正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

正则微分算子带权第二特征值的上界

考虑某类正则微分算予的带权第二特征值上界估计的问题。利用试验函数、分部积分、Rayleigh定理和不等式等方法与技巧,得到了用正则微分算子的第一个特征值来估计第二个特征值的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关。其不等式在物理学和力学中应用广泛．在微分方程的理论研究中起着重要的作用。